掺杂机制的电子能量损失谱(EELS)研究  

作　　者：张敬民[1] 章新政[1] 尤力平[1] 俞大鹏[1] 

机构地区：[1]北京大学物理学院电镜室,北京100871

出　　处：《电子显微学报》2006年第B08期8-8,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：电子能量损失谱 掺杂机制 宽禁带半导体 P型掺杂 原子位置 杂质原子 元素掺杂 过渡金属 

分 类 号：O471[理学—半导体物理]