基于IEEE Std 1149.1-2001标准的TAP控制器设计  

A Design of Testable TAP Controller Based on IEEE Std 1149.1-2001

作　　者：陈新武[1] 刘金根[2] 

机构地区：[1]信阳师范学院物理电子工程学院 [2]上海移动通信有限责任公司,上海200134

出　　处：《信阳师范学院学报（自然科学版）》2006年第4期452-454,共3页Journal of Xinyang Normal University(Natural Science Edition)

基　　金：国家自然科学基金项目(90207020)

摘　　要：在边界扫描协议的实现过程中,TAP控制器的地位比较突出,是非常重要的一块.本文从协议要求出发,使用Verilog-XL对TAP控制器进行逻辑仿真,并用Design Comp iler进行逻辑综合,得到了符合要求的电路.基于IP设计技术,给本电路增加了扫描链,可以作为一个IP软核应用于集成电路的可测试性设计.In the process of the boundary-scan standard implementation, Tap controller is outstanding and important. A tap controller was designed and simulated, using Design Compiler from Synopsys, a circuit met the demand is obtained. Based on IP design technique a scan chain is inserted in the design. The code of this paper can be used as a IP soft core in the process of IC testable design.

关 键 词：边界扫描 IEEE STD 1149.1-2001 TAP控制器 Verilog-XL IP核 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]