低能N^＋注入凤仙花的变异检测  

Examination of mutated Impatiens balsamina caused by injection of nitrogen ions

作　　者：张涛[1] 王淑芳 褚仲杰 苏颖 张桂芳 

机构地区：[1]北京师范大学低能核物理研究所,北京100875 [2]不详

出　　处：《中国学术期刊文摘》2006年第18期150-150,共1页Chinese Science Abstracts(Chinese Edition)

摘　　要：以低能N^＋注入凤仙花（Impatien Sbalsamina L）种子后获得了高茎、矮茎2个变异品系．对其进行过氧化物同工酶（POD）检测的结果表明，2个变异品系叶片的POD分子大小、表达强度和条带数目与对照相比都发生了一定变化．随机扩增多态性DNA（random amplified polymorphic DNA，RAPD）分析结果也表明变异品系DNA链的脱氧核苷酸序列发生了变异，从25个随机引物中筛选出了9个具有多态性．实验证明适当剂量的低能N^＋注入能够在基因水平引起凤仙花的变异，为花卉产业的发展提供了一种遗传育种手段．

关 键 词：离子注入 凤仙花 过氧化物酶(POD) 随机扩增多态性DNA 

分 类 号：S681.1[农业科学—观赏园艺]