高加速应力试验及极限应力试验综述  

Review of HAST and Limit Test

作　　者：杨春虹[1] 李斌[1] 来萍 王茂菊[1] 恩云飞 

机构地区：[1]华南理工大学物理学院,广州510640 [2]电子元器件可靠性物理及其应用国家级重点实验室,广州510610 [3]电子元器件可靠性物理及其应用同家级重点实验室,广州510610

出　　处：《电子与封装》2006年第10期31-34,38,共5页Electronics & Packaging

基　　金：电子元器件可靠性物理及其应用国家重点实验室资助项目

摘　　要：介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。In this paper, the concepts and the corresponding backgrounds of HAST （ Highly Accelerated Stress Test ） and limit test are introduced. Some current techniques, engineering applications, test models and analytical methods, test setting and failure mechanism are reviewed. The concerning issues are pointed out. Finally, the brief trends in HAST and limit test are predicted.

关 键 词：高加速应力试验 极限应力试验 高加速寿命试验 高加速应力筛选 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]