定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现  

An Implementation of BIST for Fixed Point DSP Processor

作　　者：张松[1] 魏敬和[2] 董玲[1] 于宗光[1] 须文波[1] 薛忠杰[1] 

机构地区：[1]江南大学通信与控制工程学院,江苏无锡214122 [2]中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035

出　　处：《江南大学学报（自然科学版）》2006年第5期505-508,共4页Joural of Jiangnan University (Natural Science Edition)　

基　　金：国防科技重点实验室项目(51433020105DZ6801)

摘　　要：在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案,包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计;通过与IEEE 1149.1兼容的边界扫描技术来对BIST实现控制,并提供电路板级的测试.测试结果证明,该设计的故障覆盖率达到了98%以上,确保了DSP芯片的品质.In this paper, we describe the implementation of BIST technique, which is used to enhance the testability of a 16 bit fixed-point DSP processor. In order to complete this task, we adopt the BIST technique for the internal complicate logic and for the data and program memory. We also implement the boundary scan technique to control BIST logic, and provide a board-level test. The test results show that this design achieves better fault coverage and insures the quality of DSP chips.

关 键 词：数字信号处理芯片 内建自测试 可测性设计 故障覆盖 

分 类 号：TN431.2[电子电信—微电子学与固体电子学] TP331.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]