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作 者:卢洋藩[1] 叶志镇[1] 曾昱嘉[1] 陈兰兰[1] 朱丽萍[1] 赵炳辉[1]
机构地区:[1]浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州310027
出 处:《无机材料学报》2006年第6期1511-1514,共4页Journal of Inorganic Materials
基 金:国家自然科学基金重点项目(50532060);国家自然科学基金(50572095);浙江省自然科学基金(Y405126)
摘 要:采用Li-N-H共掺技术在玻璃衬底上生长p型ZnO薄膜.XRD结果表明共掺ZnO薄膜具有高度c轴取向,Hall测试表明薄膜的电阻率为25.2Ω·cm,Hall迁移率为0.5cm^2/(V·s),空穴浓度为4.92×10^(17)/cm^3.此外,p-ZnO薄膜在可见光区域具有90%的高透射率.Li-N-H codoped p-type ZnO films were fabricated on glass substrates by DC reactive magnetron sputtering. X-ray diffraction, Hall-effect measurement, photoluminescence spectra and transmittance spectra were used to characterize the films. The results show that the codoped films are highly c-oriented with a p-type conduction, resistivity of 25.2Ω.cm, Hall mobility of 0.5cm^2 / (V.s), carrier density of 4.92 × 10^17cm^- 3, and transmittance of about 90%.
分 类 号:TN304[电子电信—物理电子学] O484[理学—固体物理]
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