EPROM系列电路测试程序设计  

作　　者：栗学忠[1] 

机构地区：[1]电子工业部第四十七研究所

出　　处：《半导体技术》1996年第6期54-57,共4页Semiconductor Technology

摘　　要：简要介绍了ＥＰＲＯＭ存储器的工作原理；着重介绍了用程序设计对ＥＰＲＯＭ电路功能的测试方法。

关 键 词：功能测试 程序设计 存储器 半导体集成电路 

分 类 号：TP333.506[自动化与计算机技术—计算机系统结构]