微处理器(MP)保护功能的一种自测试方法  

作　　者：郭士瑞[1] 曹泽翰[2] 

机构地区：[1]北京自动测试技术研究所 [2]重庆大学计算机系

出　　处：《微电子测试》1996年第4期15-19,共5页

摘　　要：本文介绍了MP的保护功能及其测试,提出了一种利用微机资源进行故障仿真的自测试方法,该方法简便、规整、直观,不需要借助外部的自动测试设备,并且已经在386、486和586微机上得以实现,效果良好。

关 键 词：微处理器 保护功能 微机 自测试 

分 类 号：TP368.106[自动化与计算机技术—计算机系统结构]