新型的L80C86 CPU电路电磁脉冲试验方法  

EMP Susceptibility of CPU—L80C86

作　　者：郑虹 刘丽娜[2] 高松[2] 丰洋[2] 许仲德[2] 

机构地区：[1]辽宁大连亿达集团公司,大连116021 [2]中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032

出　　处：《微处理机》2006年第6期22-23,27,共3页Microprocessors

摘　　要：介绍了一种新型的CPU类器件的EMP效应模拟试验方法,通过比较脉冲前后测量波形及CPU寄存器存数的变化,能够更科学地反映电磁脉冲对CPU类电路的影响,得到的结果客观、准确。This paper introduced a new test method to the effect of CPU device for EMP simulation. By comparing the change of wave shape and the number in the register,we can find out the EMP（ Electro Magnetic Pulse） effect to the CPU and get external results.

关 键 词：中央处理器 电磁脉冲 寄存器 试验方法 

分 类 号：TP332.11[自动化与计算机技术—计算机系统结构]