高松

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新型的L80C86 CPU电路电磁脉冲试验方法
《微处理机》2006年第6期22-23,27,共3页郑虹 刘丽娜 高松 丰洋 许仲德 
介绍了一种新型的CPU类器件的EMP效应模拟试验方法,通过比较脉冲前后测量波形及CPU寄存器存数的变化,能够更科学地反映电磁脉冲对CPU类电路的影响,得到的结果客观、准确。
关键词：中央处理器 电磁脉冲 寄存器 试验方法 
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