基于原子力显微的多模式扫描探针显微镜  

Discussion of multimode scanning probe microscope based on AFM

作　　者：吴斌[1] 黄致新[1] 王辉[1] 张峰[1] 

机构地区：[1]华中师范大学物理科学与技术学院,武汉430079

出　　处：《现代仪器》2007年第1期10-13,共4页Modern Instruments

基　　金：湖北省自然科学基金资助项目;项目编号2005ABA041

摘　　要：扫描探针显微镜是目前世界上分辨率最高的显微镜之一,也是纳米技术研究的主要工具。本文在分析原子力显微镜工作原理的基础上,探讨多模式扫描探针显微镜的相关功能,并对扫描探针显微镜的发展前景进行展望。Scanning probe microscope can on the discussion of the principle of atomic has been investigated. And the developing Key words Scanning probe microscope reach atomic resolution, and it is important for nano-technology. Based force microscope, the function of muhimode scanning probe microscope prospects of the scanning probe microscope have been stated at last.

关 键 词：扫描探针显微镜 原子力显微镜 多模式 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]