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作 者:康学军[1] 林世鸣[1] 高俊华[1] 高洪海[1] 王启明[1] 王红杰[1] 王立轩 张春晖
机构地区:[1]中国科学院半导体研究所
出 处:《Journal of Semiconductors》1996年第11期873-876,共4页半导体学报(英文版)
基 金:国家自然科学基金
摘 要:本文报道了由选择氧化和选择腐蚀法相结合研制的GaAs/AlGaAs垂直腔面发射半导体激光器,DBR中的AlAS经选择氧化后形成的氧化层作为有源区的横向电流限制层,器件的最低阈值电流为3.8mA,输出功率大于1mW,发散角小于7.8°,高频测量脉冲上升沿达100ps,并制成了2×3列阵器件。Abstract We report the GaAs/AlGaAs vertical-cavity surface-emitting semiconductor lasers fabricated by selective oxidation and selective etching. The current aperture is formed by the buried oxide layers within monolithic distributed Bragg reflectors. The lowest threshold of 3. 8mA is achived with a 4μm square active region, continuous-wave at room temperature,the maxithum output power is greater than 1mW,its angle of divergence is less than 7. 8°and the pulse rise time is less than 100ps when measured at high frequency. A 2×3 2-D arrays is obtained.
分 类 号:TN248[电子电信—物理电子学]
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