约束输入精简的多扫描链BIST方案  

Constraint Input Reduction BIST Scheme for Multiple Scan Chains

作　　者：梁华国[1] 刘军[1] 蒋翠云[2] 欧阳一鸣[1] 易茂祥[2] 

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009 [2]合肥工业大学理学院,合肥230009

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》2007年第3期371-375,共5页Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics

基　　金：国家自然科学基金(90407008);国家自然科学基金重点项目(60633060);安徽省自然科学基金(050420103)

摘　　要：运用有约束的输入精简、LFSR编码与折叠计数器技术,实现了对确定性测试集的压缩与生成.其主要优点是将多种测试方法有机地结合在一起,充分地发挥了各种方法在压缩测试数据方面的优势.与国际上同类方法相比,该方案需要的测试数据存储容量更少,测试应用时间明显缩短,总体性能得到提升;并且能够很好地适应于传统的EDA设计流.Constrained input reduction, LFSR coding and folding counter are applied to compress and generate a deterministic test set. Its highlight is effectively combining previous several test methods and taking full advantage of the methods in test data compression. Compared to international similar approaches, the proposed scheme needs less storage volume, can reduce testing time significantly, fully upgrade test performance, and is compatible with traditional scan-based design flow.

关 键 词：内建自测试 输入精简 线性反馈移位寄存器 折叠计数器 多扫描链 测试数据压缩 

分 类 号：TP206.1[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]