多扫描链

作品数：18被引量：32H指数：3
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相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
相关作者：梁华国易茂祥蒋翠云欧阳一鸣李扬更多>>
相关机构：合肥工业大学哈尔滨工业大学湖南大学阜阳师范学院更多>>
相关期刊：《赤峰学院学报（自然科学版）》《电子学报》《计算机学报》《计算机辅助设计与图形学学报》更多>>
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基于多扫描链的测试集二维矩阵合并方法
《赤峰学院学报（自然科学版）》2017年第19期41-43,共3页黄贵林 吴其林 
巢湖学院校级科研资助项目(NO:XLY-201409)
随着集成电路设计制造水平的提升,电路的集成度也在不断提高,电路测试所需数据量也在不断增长,为解决自动测试设备(ATE)存在的一些新的挑战,提出了基于多扫描链的测试集二维矩阵合并方法,复用片上网络(NoC)架构,广播目标测试集,提高了...
关键词：测试数据 矩阵 合并 
基于多扫描链的片上网络测试集归并方法
《自动化应用》2016年第10期24-26,28,共4页黄贵林 郑尚志 吴其林 
巢湖学院校级科研资助项目:芯片测试集合并方法研究(NO:XLY-201409)
电路集成度在不断上升,电路测试的数据量也越来越大,为解决因此造成的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种复用片上网络(No C)架构,多扫描链测试集归并算法,提高了测试可访问性。将扫描链长度长但数量相同的测试集合...
关键词：测试集 扫描链 归并 
基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法被引量：3
《电子与信息学报》2015年第6期1513-1519,共7页邝继顺 刘杰镗 张亮 
国家自然科学基金(61472123;60673085)资助课题
为了减少测试数据和测试时间,该文提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法。采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,提高了相容概率。若扫描切片与参考切片相容,只需要很少的几位编码就可以表示这个...
关键词：测试数据压缩 多扫描链 相容性 参考切片 扫描切片 
基于折叠计算的多扫描链BIST方案
《计算机辅助设计与图形学学报》2013年第4期557-563,共7页梁华国 李扬 李鑫 易茂祥 王伟 常郝 李松坤 
国家自然科学基金(61274036;61106037;61106038);教育部博士点基金(20110111120012);安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2010A280);江苏省高校"青蓝工程"项目(2010121312);合肥工业大学博士学位人员专项基金(2011HGBZ1291)
为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播;然后利用折叠计算理论对测试集...
关键词：折叠计算 内建自测试 多扫描链 测试应用时间 
一种多扫描链混合测试数据压缩方法被引量：1
《计算机工程》2012年第18期245-247,共3页蔡烁 邝继顺 刘铁桥 
国家自然科学基金资助项目(60773207);湖南省大学生创新实验基金资助项目(2010-224-114)
针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法。对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成。对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储。将该方法与...
关键词：测试数据压缩 扫描阻塞 混合测试方法 测试片段 泊松分布 
并行折叠计数器的BIST方案被引量：4
《电子学报》2012年第5期1030-1033,共4页梁华国 李鑫 陈田 王伟 易茂祥 
国家自然科学基金(No.60876028);博士点基金(No.200803590006);安徽高校省级自然科学研究重点项目(No.KJ2010A280)
本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构,并给出了建议的多扫描链的BIST方案.与国际上同类方法相比,该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间,其平均测试应用时间是同类方案的0.265%,并且能很好地适用于传统的...
关键词：内建自测试 线性反馈移位寄存器 并行折叠计数器 多扫描链 测试数据压缩 
动态向量调整的多扫描链测试数据压缩被引量：2
《电子学报》2012年第2期287-292,共6页刘杰 梁华国 易茂祥 赵发勇 
国家自然科学基金重点项目(No.60633060);国家自然科学基金(No.60876028);教育部博士点基金(No.200803590006);安徽省海外高层次人才基金(No.2008Z014);安徽省高校省级自然科学研究基金(No.KJ2010B428;No.KJ2010A280)
由于多扫描链测试方案能够提高测试进度,更适合大规模集成电路的测试,因此提出了一种应用于多扫描链的测试数据压缩方案.该方案引入循环移位处理模式,动态调整向量,能够保留向量中无关位,增加向量的外延,从而提高向量间的相容性和反向...
关键词：测试压缩 测试数据 多扫描链 循环移位 
芯片级BIST控制器的设计与实现被引量：2
《计算机工程》2011年第21期238-240,251,共4页孟觉 樊晓光 邬蒙 夏海宝 
国家部委基金资助项目;航空科学基金资助项目
为适应某型国产航电设备故障的实时自检测及定位需要,设计一个针对自测试电路的芯片级BIST控制器。传统的测试方法存在测试时间长和故障覆盖率不高的缺点。为此,采用伪随机测试向量和确定性测试向量相结合的混合BIST技术及多扫描链、压...
关键词：控制器 内建自测试 芯片级 多扫描链 压缩向量 
基于位跳变相容的多扫描链压缩方法被引量：4
《电子测量与仪器学报》2011年第7期654-660,共7页欧阳一鸣 刘军 梁华国 黄喜娥 
国家自然科学基金(编号:60876028)资助项目;安徽省自然科学基金(编号:090412034)资助项目;安徽高校省级自然科学研究重点项目(编号:KJ2010A269)资助项目
通过对数据块进行相容性分析发现,大多数数据块之间的不相容只是由于其中极少部分的对应位不相容导致的。针对这种情况,本文提出了一种基于跳变位相容的测试数据压缩方法,将这些数据块归入同一组中,用同一个Huffman码字来表示,并用字典...
关键词：位跳变相容 跳变码 压缩/解压 
采用测试向量合并的多扫描链嫁接测试
《应用科学学报》2011年第1期78-82,共5页刘杰 梁华国 易茂祥 
教育部博士点基金(No.200803590006);安徽省海外高层次人才基金(No.2008Z014);安徽省高校省级自然科学研究基金(No.KJ2010B428;No.2008jq1176;No.KJ2010A280)资助
多扫描链测试技术能有效减少测试用时和压缩测试数据,但该技术需要较多的数据输入通道,因而会导致测试成本增加.为了解决这种矛盾,一种多扫描链嫁接机制被提出.该方案错位产生基准向量,根据向量间的相容性合并扫描链的驱动端口.实验结...
关键词：编码压缩 测试向量 扫描链 LFSR 嫁接 
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