新型I_(DDT)测试的BIST测试生成器设计  

A New BIST TPG Design for I_(DDT) Testing

作　　者：刘莹莹[1] 陈卫兵[1] 

机构地区：[1]阜阳师范学院物理系,安徽阜阳236041

出　　处：《电子质量》2007年第4期29-31,共3页Electronics Quality

摘　　要：内建自测试(BIST)是一种有效降低测试开销的技术,在瞬态电流测试中得到了应用。本文给出了一种新型的瞬态电流测试BIST测试生成器设计方案,该设计可以产生所需要的测试向量对,同时具有硬件开销小的优点。BIST has been applied into transient current testing as an effective method to reduce testing spending, This article gives a new BIST test generator design for transient current testing, this design not only produces needed test vector pairs but also has an advantage of low hardware overheads.

关 键 词：BIST 测试生成器 自动控制单元 瞬态电流测试 

分 类 号：TM933[电气工程—电力电子与电力传动]