瞬态电流测试

作品数：9被引量：9H指数：1
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基于粒子群算法的瞬态电流测试生成研究
《福建电脑》2015年第10期1-3,共3页曾晓杰 
国家自然科学基金资助项目(60173042)
瞬态电流测试(IDDT Testing)法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。但测试时需要一次生成两个或两个以上向量,且测试向量的生成比较复杂,因此提高测试效率的关键在于寻找高效的测试向量产生算法。...
关键词：粒子群算法 瞬态电流 SPICE模拟 测试产生 
CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究
《宇航计测技术》2009年第3期58-62,共5页焦慧芳 陈新军 张晓松 
CMOS电路瞬态电流(IDDT)测试技术,在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片的集成度和工作速度越来越高,IDDT迅速增长,降低了其性能和可靠性,研究IDDT快速准确计算方法具有较强的应用需求。介绍了CMOS电路IDDT测试...
关键词：CMOS电路+ 瞬态电流测试 仿真 解析模型 
一种检测冗余故障的瞬态电流测试方法被引量：1
《微电子学与计算机》2007年第11期77-79,82,共4页崔昌明 邝继顺 蔡烁 
国家自然科学基金项目(60173042)
数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法(VoltageTesting)和稳态电流测试方法(IDDQTest-ing)检测出来的。根据瞬态电流测试(IDDQTesting)的思想,提出一种检测冗余故障的方法,该方法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点...
关键词：数字电路 冗余故障 瞬态电流测试 
一种基于I_(DDT)测试的时延故障测试产生算法
《微处理机》2007年第3期14-17,20,共5页蔡烁 邝继顺 崔昌明 
国家自然科学基金项目资助(No:60173042)
瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试(IDDQ Testing)方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试方法也有所不同。这里提出了一种关于时延故障的测试产生算法...
关键词：瞬态电流测试 时延故障 PSPICE模拟 测试产生 
新型I_(DDT)测试的BIST测试生成器设计
《电子质量》2007年第4期29-31,共3页刘莹莹 陈卫兵 
内建自测试(BIST)是一种有效降低测试开销的技术,在瞬态电流测试中得到了应用。本文给出了一种新型的瞬态电流测试BIST测试生成器设计方案,该设计可以产生所需要的测试向量对,同时具有硬件开销小的优点。
关键词：BIST 测试生成器 自动控制单元 瞬态电流测试 
用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究
《计算机研究与发展》2007年第3期479-486,共8页荀庆来 邝继顺 闵应骅 
国家自然科学基金项目(60173042)
全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方...
关键词：全速电流测试 瞬态电流测试 微处理器测试 指令序列 
一种克服工艺参数影响的I_(DDT)方法
《科学技术与工程》2006年第17期2653-2656,共4页盛艳 邝继顺 董玮炜 
国家自然科学基金(60173042;69973016)资助
在瞬态电流测试中,即使是同一设计的芯片,由于制作工艺参数的不稳定性,在输入相同的测试向量对时,会产生不同的瞬态电流,这就可能减小故障电路和无故障电路瞬态电流的差别,导致不能对电路是否有故障做出正确的判断。参考稳态电流测试中...
关键词：CMOS电路 瞬态电流测试 PSPICE模拟 工艺参数 
一种压缩向量对测试集的新方法
《科学技术与工程》2006年第11期1486-1491,共6页章毓杰 邝继顺 
国家自然科学基金(60173042)资助
通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常(例如开路故障)不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但...
关键词：瞬态电流测试 测试集 开路故障 游程编码压缩 解码 
FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用被引量：8
《同济大学学报（自然科学版）》2002年第10期1239-1243,共5页魏小芬 邝继顺 
国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 42 )
在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验...
关键词：CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿 数字集成电路 FAN算法 
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