魏小芬

作品数：1被引量：8H指数：1
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供职机构：湖南大学更多>>
发文主题：开路故障瞬态电流测试瞬态电流CMOS电路数字集成电路更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《同济大学学报（自然科学版）》更多>>
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FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用被引量：8
《同济大学学报（自然科学版）》2002年第10期1239-1243,共5页魏小芬 邝继顺 
国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 42 )
在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验...
关键词：CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿 数字集成电路 FAN算法 
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