FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用  

Practice on I_(DDT) Test Generation Based on FAN Algorithm

作　　者：魏小芬[1] 邝继顺[1] 

机构地区：[1]湖南大学计算机与通信学院,湖南长沙410082

出　　处：《同济大学学报（自然科学版）》2002年第10期1239-1243,共5页Journal of Tongji University:Natural Science

基　　金：国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 42 )

摘　　要：在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验结果说明 ,在不考虑冒险的情况下 ,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的 .This paper explores the feasibility for transient current test (I DDT)generation for stuck-open fault in CMOS circuits assumed that hazards are not considered in the circuits.Three different D-fronts are defined.Three parts of test generation are given in the paper:① to excite fault;② to maximize the I DDT difference between the fault-free circuit and fault circuit;③ to minimize the effect of bypass.The experimental results show that when hazards are not considered,it is possible for us to use FAN algorithm to generate test patterns for I DDT test

关 键 词：CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿 数字集成电路 FAN算法 

分 类 号：TN432.07[电子电信—微电子学与固体电子学]