陈新军

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CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究
《宇航计测技术》2009年第3期58-62,共5页焦慧芳 陈新军 张晓松 
CMOS电路瞬态电流(IDDT)测试技术,在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片的集成度和工作速度越来越高,IDDT迅速增长,降低了其性能和可靠性,研究IDDT快速准确计算方法具有较强的应用需求。介绍了CMOS电路IDDT测试...
关键词：CMOS电路+ 瞬态电流测试 仿真 解析模型 
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