泰瑞达:以SoC测试技术徕卡战ATE市场  

在线阅读下载全文

出  处:《集成电路应用》2007年第8期14-14,共1页Application of IC

摘  要:近年来,随着半导体工艺特征尺寸的不断缩小以及新工艺的导入,测试的重要性和复杂性越来越突显.其所需成本在最终产品中的比例也越来越高.自动测试设备市场的竞争与日俱增.在众多有力竞争者中,泰瑞达是一家以SoC测试为主要市场的自动测试设备供应商。

关 键 词:SOC测试 设备市场 测试技术 ATE 半导体工艺 徕卡 自动测试 设备供应商 

分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象