检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:俞梁英[1]
机构地区:[1]苏州经贸职业技术学院机电系,江苏苏州215008
出 处:《山东轻工业学院学报(自然科学版)》2007年第3期11-14,共4页Journal of Shandong Polytechnic University
摘 要:为了解决ICT对BGA封装芯片不能完全测试的问题以及简化PCB板的测试方法,提出了一种测试方法:边界扫描技术。它是一种完整的、标准化的可测性设计方法,提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案,极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、方法以及边界扫描技术应用于PCB测试的影响。In order to solve the question that ICT cannot test completely the BGA seal chip as well as simplify the PCB board test method, one kind of test method is proposed-boundary scanning technology. It is one complete, standardized measurable design method. The electric circuit panel part function is provided the system test efficiency is enhunced enormously. This article introduced in detail the boundary scanning test principle, the method as well as the influence scanning technology which is applied in the PCB test influence.
分 类 号:TM930.12[电气工程—电力电子与电力传动]
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