检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:杨丽侠[1] 杜磊[1] 包军林[1] 赵志刚[1] 张莹[1]
机构地区:[1]西安电子科技大学
出 处:《混合微电子技术》2007年第4期9-14,共6页Hybrid Microelectronics Technology
摘 要:对DC/DC电源模块中的肖特基二极管进行了^60Co γ辐照实验,详细研究其正反向特性和1/f噪声的总剂量效应。实验发现,辐照没有明显引起正向特性变化,但使得反向击穿电压减小,漏电流变大,1/f噪声剧烈增加。基于隧穿效应的分析表明,发现辐照诱生新的界面态及界面态密度分布的变化调制了肖特基势垒高度,是引起器件性能退化主要原因。
关 键 词:肖特基二极管 辐照 1/f噪声 总剂量效应 隧穿效应 界面态 肖特 基势垒高度
分 类 号:TN311.7[电子电信—物理电子学]
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