强流离子注入机晶片电荷积累及控制  

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作  者:陈林[1] 

机构地区:[1]电子工业部第四十八所

出  处:《LSI制造与测试》1997年第3期23-26,35,共5页

摘  要:分析了离子注入机中晶片电荷积累的物理机理,介绍了强流离子注入机中控制晶片电荷积累的方法,并讨论了强流离子注入机设计应注意的问题。

关 键 词:强流离子注入机 电荷积累 晶片 离子注入 

分 类 号:TN305.3[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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