含杂质碳氮薄膜的X射线衍射研究  被引量:1

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作  者:赵敏学[1] 顾有松[1] 常香荣[1] 田中卓[1] 袁磊[2] 张云汉[3] 

机构地区:[1]北京科技大学材料物理系 [2]中国科学院凝聚态物理中心北京真空物理实验室,北京100080 [3]北京联合大学建材轻工学院材料工程系,北京100054

出  处:《真空科学与技术》1997年第6期434-437,共4页Vacuum Science and Technology

基  金:国家自然科学基金

摘  要:自从Niu等首次获得接近β-C3N4的电子衍射谱以来,许多研究小组都报道说已制备出β-C3N4微晶。但在本实验中发现,当含有铁等杂质时,碳膜和碳氢膜的X射线衍射谱中都出现几条与β-C3N4的理论计算相近的谱线。这提示在β-C3N4的研究中,需要排除杂质的影响,制备出纯净的样品,以便得出明确可靠的结论。

关 键 词:薄膜 杂质 碳氮薄膜 X射线衍射 微晶 

分 类 号:O484.4[理学—固体物理] O613.71[理学—物理]

 

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