存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用  

Design and Implementation of Memory BIST in IC design

作　　者：殷弼君[1] 黄伟平[1] 

机构地区：[1]华东计算技术研究所,上海200233

出　　处：《计算机工程》2008年第B09期122-124,共3页Computer Engineering

摘　　要：针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试。This paper introduces the test of memory in SoC with the aid of design tools, presents the methodology and structure of memory build-in-self-test and discusses the implementation and diagnosis of memory model.

关 键 词：可测性设计 存储器内建自测试 双端口寄存器堆文件 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]