扩展相容性多扫描树的设计  

Design of Multiple Scan Tree with Extended Compatibilities

作　　者：刘志华[1] 尤志强[1] 张大方[1] 成永升[2] 

机构地区：[1]湖南大学软件学院,长沙410082 [2]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082

出　　处：《计算机工程》2008年第22期234-235,238,共3页Computer Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60673085;60473031)

摘　　要：针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗最高可降低60.8%。With regard to the multiple scan inputs in practical circuit, a new multiple scan tree structure is designed, which reduces the test application time and average test power consumption. Experimental results show the test application time of this scheme is reduced up to 52.4% and the average power consumption is reduced up to 60.8%, when there are two scan inputs.

关 键 词：多扫描树 可测性设计 全扫描测试 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]