刘志华

作品数：1被引量：1H指数：1
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供职机构：湖南大学更多>>
发文主题：可测性设计相容性全扫描测试测试功耗数字电路测试更多>>
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扩展相容性多扫描树的设计被引量：1
《计算机工程》2008年第22期234-235,238,共3页刘志华 尤志强 张大方 成永升 
国家自然科学基金资助项目(60673085;60473031)
针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗最高可降低60.8%。
关键词：多扫描树 可测性设计 全扫描测试 
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