检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:Matt Klein
机构地区:[1]Xilinx公司
出 处:《世界电子元器件》2009年第4期47-49,共3页Global Electronics China
摘 要:对于FPGA来说,设计人员可以充分利用其可编程能力以及相关的工具来准确估算功耗,然后再通过优化技术来使FPGA设计以及相应的PCB板在功率方面效率更高。 静态和动态功耗及其变化 在90nm工艺时,电流泄漏问题对AISC和FPGA都变得相当严重。在65nm工艺下,这一问题更具挑战性。为获得更高的晶体管性能,必须降低阈值电压,但同时也加大了电流泄漏。
关 键 词:FPGA设计 动态功耗 XILINX 优化设计 90nm工艺 65nm工艺 电流泄漏 编程能力
分 类 号:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TN432
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