检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]上海大学机电工程与自动化学院,上海200072 [2]上海海兹思光电科技有限公司,上海200090
出 处:《仪表技术》2009年第4期39-41,共3页Instrumentation Technology
基 金:上海科委资助项目(0852nm06800)
摘 要:提出一种基于压电陶瓷管扫描器的X-Y二维大范围纳米级定位系统,该系统利用摩擦力和惯性使样品产生步进式的微位移。阐述了该系统的设计和工作原理,并给出了它在原子力显微镜中用于探针-样品间的定位控制的应用实例,取得了理想效果。A X -Y dimensions nano-positioning thesis, which utilized friction and inertia to drive the principle were introduced in detail, and an example some satisfactory results were obtained. system with large-scale based on PZT scanner was presented in this sample for micro-and nano-step movement. The design and work of its experiments in Atomic Force Microscopy was shown. And
关 键 词:样品移动平台 摩擦力和惯性 原子力显微镜 定位控制
分 类 号:TH702[机械工程—仪器科学与技术] TH742[机械工程—精密仪器及机械]
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