电子元器件和电子设备的ESD试验方法比较  被引量:1

Comparison of ESD Test Method for Electronic Devices and Electrical Equipments

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作  者:来萍[1] 邝贤军[1] 梁晓思[1] 

机构地区:[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610

出  处:《电子产品可靠性与环境试验》2009年第2期37-42,共6页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘  要:主要针对电子元器件和电子设备静电放电试验方法进行了对比分析,包括试验针对的产品对象、依据的试验标准、需要的试验设备以及具体的试验方法和合格判据等。ESD test methods for electronic devices and electronic equipment are discussed and compared in terms of the objects under test, the based test standards, the equipment used in the test, the specific test methods and the criterion to be used.

关 键 词:静电放电 试验方法 标准 对比 

分 类 号:TB24[一般工业技术—工程设计测绘] TN03[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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