用于半导体器件探测和分析的混合信号互连方案  

出　　处：《今日电子》2009年第6期68-69,共2页Electronic Products

摘　　要：该解决方案利用一套线缆即可处理I—V、C-U和脉冲I—V信号的互连，能大大加快并简化从任意半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS Micro Tec探测器进行直流电流-电压（I—V）、

关 键 词：半导体器件 混合信号 探测器 互连 CASCADE 电流-电压 分析仪 TEC 

分 类 号：TN303[电子电信—物理电子学] TN407