用于半导体器件探测和特征分析设备的混合信号互连解决方案  

出　　处：《现代仪器》2009年第3期81-82,共2页Modern Instruments

摘　　要：吉时利仪器公司4月发布利用一套线缆即可处理I～V、C—V和脉冲I—V信号的互连解决方案。本款最新布线套件基于专利型设计，能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech勤务SUSS MicroTec探测器进行直流电流一电压（I—V）、电容-电压（C—V）和脉冲I—V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200-SCS半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。

关 键 词：半导体器件 混合信号 互连线 探测器 分析设备 特征 吉时利仪器公司 4200-SCS 

分 类 号：TN303[电子电信—物理电子学] TN407