退卷积法提高CCD探测随机光场分辨率的理论与实验研究  

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作  者:张百雷[1] 程传福[2] 宋洪胜[2] 

机构地区:[1]潍坊学院,山东潍坊261061 [2]山东师范大学物理电子科学学院,山东济南250014

出  处:《科技信息》2009年第17期34-35,共2页Science & Technology Information

摘  要:基于多次成像提出了退卷积法对原始图像进行处理,消除探测孔径的影响,获得较高分辨率的图像,通过实验成功的提高了现有CCD的分辨率,获得了4倍于原始图像分辨率的图像。

关 键 词:退卷积法 图像 分辨率 

分 类 号:TN622.09[电子电信—电路与系统] TU112.432[建筑科学—建筑理论]

 

参考文献:

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引证文献:

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