基于决策树自动构造的组装缺陷识别  

Component defects identification based on decision tree automatic construction

作　　者：邝泳聪[1] 欧阳高飞[1] 杨锦荣[1] 谢宏威[1] 洪始良[1] 

机构地区：[1]华南理工大学机械与汽车工程学院,广州510640

出　　处：《制造业自动化》2009年第8期36-41,共6页Manufacturing Automation

基　　金：国家杰出青年科学基金(50825504);广东省科技攻关重点项目(2008A010300002);粤港关键领域重点突破招标项目资助(东莞专项20081628)

摘　　要：针对当前自动光学检测(AOI)设备不能自动识别缺陷类型的问题,提出一种决策树自动构造的电子元件组装缺陷识别方法。通过计算后续分支的不纯度,实现缺陷分析路径自动构造和优化。实验表明,决策树的自动构造,优化了缺陷的分析过程,提高了缺陷识别的速度和缺陷信息的准确率。

关 键 词：自动光学检测 缺陷分类 决策树 自动构造 

分 类 号：TP391.4[自动化与计算机技术—计算机应用技术]