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作  者:王玲 王淑华 

出  处:《微纳电子技术》2010年第1期64-64,共1页Micronanoelectronic Technology

关 键 词:产品 CMOS兼容 机械寿命 可靠性要求 光刻掩模 投影设备 SIGE 专利技术 

分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学] TP212.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

 

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