VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟  

作　　者：杨谟华[1] 方朋 

机构地区：[1]电子科技大学 [2]美AMD公司

出　　处：《电子科技导报》1998年第12期19-23,共5页

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：论述了ＶＬＳＩ／ＵＬＳＩ可靠性的监测与模拟领域的技术背景、研究特点、技术进展与现代监测分析技术，并进而讨论了ＶＬＳＩ可靠性工程技术发展趋势。

关 键 词：VLSI/ULSI 可靠性 监测 模拟 BERT 寿命 失效率 

分 类 号：TN470.6[电子电信—微电子学与固体电子学]