基于边界扫描技术的PCB测试  

作　　者：刘军[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团第38研究所数字技术部,230031

出　　处：《中国科技信息》2010年第16期130-132,共3页China Science and Technology Information

摘　　要：现代雷达中使用的PCB中大量采用集成度很高的IC,尤其是BGA器件。传统的测试方法无法进行或者测试效率低下,并且测试的覆盖率也不高,PCB调试工作极为困难,迫切需要一种高效的测试手段来解决硬件测试中遇到的难题。边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,采用边界扫描技术设计的PCB自动测试设备(ATE)很好的解决了高性能PCB测试的难题。

关 键 词：自动测试设备 BGA器件 边界扫描 

分 类 号：TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]