检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:魏守水[1] 陈振生[1] 赵春民[1] 张玉林[1]
机构地区:[1]山东工业大学自动化系
出 处:《微细加工技术》1999年第2期8-11,共4页Microfabrication Technology
摘 要:提出了一种高精度测量电子束曝光机束流的新方法。并给出测量电路,该电路在未加屏蔽的情况下,可达90dB的共模抑制比。A new technique tomeasure the current of electron beam of EBEM (Electron Beam Exposure Machine) with high Precision is Proposed. The circuit is described and its CMRR of 90dB is achieved without additional shielding.
分 类 号:TN792.07[电子电信—电路与系统] TN305.7
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