检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]长春理工大学高功率半导体激光国家重点实验室,吉林长春130022
出 处:《应用光学》2010年第6期1023-1026,共4页Journal of Applied Optics
基 金:国家自然科学基金(60976044)
摘 要:用ANSYS有限元热分析软件模拟了基于AlN膜钝化层和SiO2膜钝化层的高功率垂直腔面发射半导体激光器(VCSEL)器件内部的热场分布和热矢量分布。经模拟得到基于AlN膜钝化层的VCSEL热阻为3.123℃/W,而基于SiO2膜钝化层的VCSEL的热阻为4.377℃/W。经实验测得基于AlN膜钝化层的VCSEL热阻为3.54℃/W,而基于SiO2膜钝化层的VCSEL的热阻为4.75℃/W,模拟结果与实验结果吻合较好。Based on ANSYS finite-element software,internal distribution of thermal fields and heat flow vector distribution of high power VCSE in AlN film passivation layer and SiO2 film passivation layer were analyzed.According to modeling,the Rthjc of VCSEL in AlN film is 3.123 ℃/W and the Rthjc of VCSEL in SiO2 film is 4.377 ℃/W.Experiment indicates that the Rthjc of VCSEL in AlN film is 3.54 ℃/W and the Rthjc of VCSEL in SiO2 film is 4.75 ℃/W.
关 键 词:垂直腔面发射半导体激光器 AlN膜 SIO2膜 ANSYS
分 类 号:TN248.4[电子电信—物理电子学]
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