碳氮薄膜的结构分析  被引量:1

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作  者:赵敏学[1] 

机构地区:[1]中国人民武装警察部队学院科研所

出  处:《真空科学与技术》1999年第A10期81-84,共4页Vacuum Science and Technology

摘  要:对不同沉积条件下沉积在硅基片上的纯碳薄膜、碳氮薄膜以及受不锈钢污染的碳氮薄膜的X射线衍射谱进行了比较分析,并结合晶态碳氮薄的Raman谱分析,认为在这几种工艺条件下是否已合成出β-C3N4尚特进一步研究。

关 键 词:气相沉积 碳氮薄膜 X射线衍射 Β相 

分 类 号:O484.5[理学—固体物理]

 

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