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作 者:吴永炘[1] 文效忠[1] 杨志雄[1] 萧祖隆[1] 李志勇[1]
机构地区:[1]香港理工大学
出 处:《电镀与涂饰》1999年第4期29-31,共3页Electroplating & Finishing
摘 要:铜在防渗铜镀层中的扩散系统是评价镀层防渗铜能力的重要参数。采用电子显微探针法,“俣野”数值方法推导出扩散系数。并分析了铜在柱状和块状镍镀层中的扩散系数。Diffusion coefficient of copper in barrier coating is a considerable parameter for evaluating barrier ability. Diffusion coefficient can be deduced from matano method using electronic microprobe. Diffusion characteristics of copper in lamellar and columnar nickel deposit are also determined.
分 类 号:TQ153.12[化学工程—电化学工业]
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