SDB-SOI晶片减薄技术综述  被引量:2

Review on SDB-SOI Thinning Technology

在线阅读下载全文

作  者:孙涛[1] 张伟才[1] 

机构地区:[1]中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津300220

出  处:《电子工业专用设备》2011年第10期33-36,共4页Equipment for Electronic Products Manufacturing

摘  要:阐述了SDB-SOI晶片的减薄技术的特点和要求,依次介绍了化学机械抛光、电化学自停止腐蚀、等离子抛光技术和智能剥离技术的原理和特点,并指出了SDB-SOI晶片减薄的发展趋势。In this paper,the characteristics and requirements of SDB-SOI thinning technology were described.Chemical mechanical polishing,electrochemical etch-stop,plasma stripping polishing techniques and smart-cut were introduced.The SDB-SOI wafer thinning trends was proposed.

关 键 词:SDB-SOI减薄 化学机械抛光 电化学自停止腐蚀 等离子抛光 智能剥离 

分 类 号:TN305.2[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象