SJ-LDMOST中的衬底辅助耗尽效应  

Substrate Assisted Depletion Effect in SJ-LDMOST

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作  者:成建兵[1] 

机构地区:[1]南京邮电大学微电子系,江苏南京210046

出  处:《电子产品世界》2011年第12期30-31,共2页Electronic Engineering & Product World

基  金:江苏省自然科学基金资助(BK2011753)

摘  要:本文分析了SJ-LDMOST中衬底辅助耗尽效应的产生机理。文中将业界消除衬底辅助耗尽效应的主要方法分成两类,并提出消除衬底辅助耗尽效应的途径。

关 键 词:SJ-LDMOST 功率集成电路 衬底辅助耗尽效应 击穿电压 

分 类 号:TN386.1[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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引证文献:

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