检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张志坚[1] 张凡[1] 邱光文[1] 彭茂公[1] 王红鹰[1] 俞琨[1]
机构地区:[1]昆明冶研新材料股份有限公司,云南昆明650031
出 处:《云南冶金》2012年第1期40-44,共5页Yunnan Metallurgy
摘 要:介绍了硅抛光片在硅材料产业中的定位和市场情况,化学机械抛光(CMP)技术的特点,硅抛光片大尺寸化技术问题和发展趋势,以及硅抛光片技术指标,清洗工艺组合情况等。The following situations are introduced in this paper: the orientation and market situation of polished silicon wafer in silicon material industry, the features of chemical mechanical polishing (CMP) technology, technical problems of large size polished silicon wafer and its development trend, as wall as the technical index of polished silicon wafer, cleaning process combination etc.
分 类 号:TN304.12[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.13