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作 者:江若琏[1] 罗志云[1] 陈卫民[1] 臧岚[1] 朱顺明[1] 徐宏勃 刘夏冰[1] 程雪梅[1] 陈志忠[1] 韩平[1] 郑有炓[1]
机构地区:[1]南京大学物理系,南京210093
出 处:《半导体光电》2000年第1期27-29,共3页Semiconductor Optoelectronics
基 金:86 3计划;国家自然科学重点基金资助项目!(6 96 36 0 10 )
摘 要:采用低温生长缓冲层,高温生长GeSi外延层的方法在n型Si衬底上外延生长(i)Ge0.85Si0.15-(p)Si层,以此材料作为吸收区制备成GeSi/Si异质结pin台面光电二极管。其波长范围为0.7-1.55μm,峰值波长位于1.06μm,暗电流密度低达0.033μA/mm^2(-2V),在1.06μm和1.3μm处的响应度分别为1.8A/W(-2V)和0.066A/W(-V)。Ge 0.85 Si 0.15 /Si heterojunction pin mesa photodiodes are fabricated.The absorption regions of these diodes are (i) Ge 0.85 Si 0.15 -(p)Si layers with which the buffer layers are grown at low temperature and GeSi epilayers are grown at high temperature. The wavelength range of these diodes is 0.7~1.55 μm with a peak at 1.06 μm,the dark current density of as low as 0.03 μA/mm 2(-2 V),and the responsivity of 1.8 A/W(-2 V) and 0.066 A/W(-2 V) at 1.06 μm and 1.3 μm,respectively.
分 类 号:TN364.2[电子电信—物理电子学]
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