检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]北京大学微米/纳米加工技术国家级重点实验室 [2]中国人民解放军91550部队
出 处:《传感器与微系统》2012年第7期17-19,共3页Transducer and Microsystem Technologies
摘 要:介绍了一种采用PROTEK材料作为保护层,在MEMS器件体硅湿法腐蚀加工工艺中保护金属电极的新工艺。采用这种新的工艺可以在MEMS体硅工艺传感器的加工过程中,完成所有IC工艺的加工后再进行MEMS体硅工艺的加工。实验结果表明:采用这种新的材料进行KOH腐蚀工艺的金属表面保护,既可以提高工艺加工效率,又可以提高工艺加工质量。该工艺可以广泛应用于MEMS体硅工艺中KOH湿法腐蚀的工艺加工,也可以应用于光电子器件的工艺加工。A new method,which uses PROTEK material in MEMS wet etching process of silicon bulk technology to protect the metal,is introduced. All the IC processes can be done before the wet etching is executed when this new method is employed. The experimental results prove that the new method and the new process can protect the metal very well in wet etching process of the silicon bulk technology. This process can be used widely in KOH wet etching process of the silicon bulk technology and it can also be used in manufacture of photoelectronic devices.
关 键 词:KOH湿法腐蚀 微机电系统 PROTEK材料 体硅工艺
分 类 号:TP212[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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