X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)  

Solution of Inverse Problem of Therman Equation in Quantitative X-ray Fluorescence Analysis

作　　者：谭秉和[1] 王桂华[1] 

机构地区：[1]北京科技大学化学系,北京100083

出　　处：《光谱学与光谱分析》2000年第3期399-401,共3页Spectroscopy and Spectral Analysis

基　　金：冶金工业部重点科研课题!(编号 95 -0 3-0 2 3)

摘　　要：本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、X射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热钢标样 ,主量、常量元素的平均相对分析误差 <0 .5 %,对低含量轻元素Si、P、In this paper,firstly the algorithmic relation b etween the weight fraction C i,X-ray fluorescence relative intensity R i and matrix effect factor F i is created for the multi-element specimen on theoretical basis.Secondly,according to this algorithm relation,the typical method to solve inverse problem of Therman equation can be developed that is the theoretical influence coefficience method and the fundamental parameter method. Six standards are analysed by these two methods respectively,and results are goo d agree with the certified values.

关 键 词：X射线荧光分析 迭代法 影响系数法 谢尔曼方程 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]