王桂华

作品数：3被引量：10H指数：3
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供职机构：北京科技大学应用科学学院化学系更多>>
发文主题：基本参数法影响系数法X射线荧光光谱分析X射线荧光分析更多>>
发文领域：理学更多>>
发文期刊：《光谱学与光谱分析》更多>>
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Arai实测谱分布数据的应用被引量：3
《光谱学与光谱分析》2002年第3期498-500,共3页王桂华 谭秉和 
对Arai的靶原级谱分布数据 ,通过插值、拟合处理 ,获得适用于数值积分的Δλ =0 0 0 2nm的谱分布数据 ,建立了新的谱分布数据文件 ,应用于FPM程序中。并对耐热钢GH131进行实验研究。理论强度与测量强度的相关性良好 ;基本参数法与理论...
关键词：Arai 谱分布数据 X-光管原级谱分布 影响系数法 基本参数法 X射线 荧光光谱分析 
理论强度公式在X-射线荧光光谱分析中的应用被引量：4
《光谱学与光谱分析》2002年第2期328-330,共3页王桂华 谭秉和 
介绍理论强度公式的应用 :计算基体效应 ,估算三次荧光 ;标准样品数据及实验条件的检验 ;预测标样的适用性 ;稀释率的确定。
关键词：理论强度公式 X-射线荧光光谱分析 应用 基体效应 标样预测 玻璃熔片 稀释率 
X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)被引量：3
《光谱学与光谱分析》2000年第3期399-401,共3页谭秉和 王桂华 
冶金工业部重点科研课题!(编号 95 -0 3-0 2 3)
本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、X射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热...
关键词：X射线荧光分析 迭代法 影响系数法 谢尔曼方程 
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