检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:陈桂章[1]
机构地区:[1]南京电子器件研究所
出 处:《固体电子学研究与进展》1990年第4期379-385,共7页Research & Progress of SSE
摘 要:本文报道了GaAs常γ电调变容管材料的研究.文中分析了GaAs单晶衬底的质量对外延层表面形貌和外延层-衬底间界面状态的影响;研究了外延工艺条件与外延层浓度分布的关系;讨论了外延层载流子浓度分布对器件C-V特性的影响.文中还给出了材料的制管结果.This paper describes recent progress of GaAs epitaxial material for an electrically tunned diode with constant γ. The influence of GaAs substrate quality on both the surface morphology of epilayers and the interfaces between epilayers and sub-states is analyzed. The dependence of doping profile of epilayers on the epitaxial growing process is studied. Then the influence of the epilayer carrier concentration profile on the C-V properties of the electrically tunned diodes with constant γ is discussed. Finally, the results of diodes made by the materials are also given.
分 类 号:TN752[电子电信—电路与系统]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.15