检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张洪涛[1] 许辉[1] 徐重阳[1] 邹雪城 王长安 赵伯芳 周雪梅
机构地区:[1]湖北工学院电气工程与计算机科学系,湖北武汉430074
出 处:《计算机与现代化》2000年第3期21-25,40,共6页Computer and Modernization
摘 要:采用化学气相淀积 ( CVD)淀积 Si C薄膜中 Si H4、CH4的分解反应方程对 Si H4、CH4的分解产物种属进行数学建模 ,并结合相关热力学数据进行计算机模拟 ,得出 Si H4分解产物中以 Si H2 为最多 ,CH4以 CH2 为最多 ,表明它们在淀积薄膜中是主要因素。The decomposing mechanism of SiH 4 and CH 4 in nc SiC film by CVD was discussed.After the reaction equations were determined by collecting previous chemical data, the computing simulation was carried out. The results show that the SiH 2 and CH 2 are main factors in deposition of nc SiC films.
关 键 词:化学气相淀积 SIC薄膜 SIH4 CH4 计算机模拟
分 类 号:TN304.24[电子电信—物理电子学]
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